Laboratoire d'Optique des Solides
Unité Mixte de Recherche Associée au CNRS n°7601
LAFAIT Jacques, Directeur de Recherche
Adresse Postale : Boîte Courrier 80, 4, Place Jussieu, 75252 PARIS Cedex 05
Localisation : Tour 13-12, 4ème étage
Tel : 01.44.27.39.81 Fax : 01.44.27.39.82
Courrier electronique : lafait@los.jussieu.fr
Effectifs
Thèmes de Recherche
Mots clés
Collaborations Scientifiques
Collaborations Industrielles
Activité de Formation
Compétences
Enseignants Chercheurs :14
Chercheurs : 8
IATOS : 7
ITA : 8
Visiteurs : 5
Doctorants : 4
- Etudes optiques des propriétés électroniques et vibrationnelles : Surfaces et interfaces (Y. Borensztein); Impuretés et défaults (B. Clerjaud); Physique numérique des matériaux (K. Kunc). - Matériaux et systèmes à propriétés optiques prédéterminées : Milieux transparents à modulation d’indice (J. Rivory); Matériaux émissifs pour la visualisation et le proche infrarouge (P. Benalloul, J.M. Frigério); Milieux hétérogènes (J. Lafait); Matériaux à propriétés optiques non-linéaires (S. Debrus).
Matière condensée, Matériaux, Electromagnétisme, Optronique, Systèmes optiques, Propriétés optiques, Couches minces
Universités : Bordeaux, Le Mans, Nantes, Paris VII, Versailles, Ecole Polytechnique. CEA : SPAM, CRSIM; CMO-LETI, DGA. Universités ; Witwatersrand, Johannesburg (Afrique du Sud); Technique de Berlin (Allemagne); La Laguna (Espagne); Helsinki (Finlande); Islande; Libanaise, Beyrouth (Liban); Mohamed V, Rabat (Maroc); Autonome de Mexico (Mexique); Trondheim (Norvège); Varsovie (Pologne); Brno (Rep. Tchèque); Nationale Cheng Kung (Taïwan); Tunis (Tunisie); Nottingham (U.K.); Harvard (USA). Institut Paul-Drude, Berlin, Institut Max-Planck, Stuttgart (Allemagne); Institut d’Optique, Madrid (Espagne); Académie des Sciences, Varsovie, Wroclaw (Pologne); Académie des Sciences, Moscou (Russie); CNST, Hanoï (Viet-Nam).
Bertin, Dassault-Aviation, Essilor, l'Oréal, Rhône-Poulenc, St-Gobain, Thomson-CSF, Planar Intern. (Finlande).
DEA d’Optique et de Photonique DEA Champs, Particules et Matière DEA d’Electronique DEA Optiques et Matériaux (Paris 7).
Installations à ultravide pour le dépôt de couches minces et de multicouches et analyses in situ. Electrochimie des interfaces. Spectrophotométrie UV, visible, proche IR. Spectrométrie IR à transformée de Fourier. Spectroscopie de déflexion photothermique et photoacoustique. Réflectométrie différentielle. Spectroscopie de réflectivité anisotrope. Ellipsométrie spectroscopique UV-visible et IR à transformée de Fourier. Photo-, électro-, cathodo-luminescence. Résonance paramagnétique électronique. Z-scan, mélange 4 ondes dégénéré (mesures de chi(2) et chi(3)). Analyse d'image. Calculs ab initio de structures atomiques et électroniques. Orientation, mise en forme et polissage de matériaux.